由透射電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱TEM）的原理可知，只有足夠薄的樣品，才能在TEM中安排測(cè)試，當(dāng)樣品過(guò)厚時(shí)，在TEM中觀察到的便是黑色的一大片，無(wú)法觀察到微觀形貌。因此，TEM的制樣也有很多講究的地方，今天鑠思百小編就來(lái)講講透射電鏡一共有哪些制樣的方法。

粉末樣品

常規(guī)的粉末樣品，直接用普通的銅網(wǎng)（含有載網(wǎng)部分）裝載樣品即可。由于粉末樣品可能會(huì)吸附在一起，導(dǎo)致樣品形成較厚的一團(tuán)，所以通常制樣時(shí)會(huì)將樣品放置在超純水或乙醇中進(jìn)行超聲，之后滴在銅網(wǎng)上，此時(shí)樣品會(huì)均勻分散到支持膜上，即可進(jìn)行正常的拍攝。

塊狀或固體樣品

超薄切片制樣：對(duì)于生物樣品或高分子樣品等，其微觀結(jié)構(gòu)通常較厚，如果要進(jìn)行正常的透射電鏡拍攝，通常需要進(jìn)行制樣處理，常用的方法是超薄切片制樣。超薄切片制樣基本的步驟包含取材、固定、脫水、浸透、包埋、切片及染色。

離子減薄制樣：當(dāng)樣品為金屬或陶瓷片狀樣品時(shí)，對(duì)該種較厚的樣品處理時(shí)，可以使用離子減薄制樣。離子減薄制樣是一種傳統(tǒng)減薄技術(shù)，其基本介紹為利用氬離子槍發(fā)射一定能量的聚焦氬離子束對(duì)樣品表面特定區(qū)域進(jìn)行連續(xù)沖擊，實(shí)現(xiàn)研磨減薄樣品的方法。操作相對(duì)簡(jiǎn)單一些。

FIB制樣：FIB是指聚焦離子束技術(shù)（Focused Ion beam）簡(jiǎn)稱：FIB。其原理和離子減薄類似，都是使用離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后作用于樣品表面，實(shí)現(xiàn)樣品材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。其中大多數(shù)FIB均使用鎵Ga離子源。該種方法與離子減薄不同的是，F(xiàn)IB可以對(duì)樣品表面的某一小部分區(qū)域進(jìn)行剝離，所以其操作精度也會(huì)更高。

總結(jié)

以上介紹的方法就是目前常用的幾種透射電鏡的紙樣方法，通常需要根據(jù)自己測(cè)試的目的來(lái)選用合適的制樣方法，這樣才能在TEM電鏡測(cè)試時(shí)拍出想要的圖片。本文中對(duì)集中TEM的制樣方法做了簡(jiǎn)單的介紹，如果還需了解更多，歡迎咨詢鑠思百檢測(cè)！我們提供TEM測(cè)試服務(wù)。鑠思百檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室屬于科學(xué)研究檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，對(duì)外提供TEM測(cè)試服務(wù)。3-5個(gè)工作日左右出具準(zhǔn)確分析檢測(cè)數(shù)據(jù)。鑠思百檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室設(shè)備先進(jìn)，為高校及企業(yè)提供科學(xué)研究的試驗(yàn)方案和強(qiáng)大的服務(wù)支持，支持各地上門取樣/寄樣測(cè)試服務(wù).歡迎聯(lián)系送樣檢測(cè)