透射電鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM）是一種高分辨率的顯微鏡，利用電子束通過物質樣品來觀察樣品的微觀結構和成分。相比于光學顯微鏡，透射電鏡具有更高的分辨率和放大倍數(shù)，能夠揭示更細微的結構和更小的顆粒。

透射電鏡的基本原理是利用電子束的特性和樣品與電子的相互作用。電子束由電子槍產(chǎn)生，經(jīng)過準直系統(tǒng)和透鏡系統(tǒng)聚焦后，穿過樣品并投射到投影屏或檢測器上形成圖像。在穿過樣品的過程中，電子束與樣品中的原子和結構發(fā)生相互作用，產(chǎn)生散射、透射和吸收等現(xiàn)象。通過分析這些相互作用的結果，可以獲得樣品的結構和成分信息。

透射電鏡常用于研究各種材料的微觀結構，包括金屬、陶瓷、聚合物、生物樣品等。它可以觀察到納米尺度的晶體結構、原子排列、晶格缺陷、界面和表面形貌等細節(jié)。透射電鏡還可以通過能譜分析技術獲得樣品的元素組成和化學狀態(tài)信息，對于材料科學、納米科學、生物科學等領域的研究具有重要意義。

透射電鏡的操作和樣品制備需要一定的專業(yè)知識和技能。樣品制備通常需要將樣品切割成極薄的薄片，然后使用特殊的技術將其固定在透射電鏡樣品支架上。由于電子束在透射過程中對樣品非常敏感，樣品制備過程需要避免氣體和水分的污染，并保持樣品的穩(wěn)定性和原貌。

總之，透射電鏡是一種強大的工具，能夠提供微觀世界的詳細信息，對于各種科學研究和工程應用具有廣泛的應用價值。它在材料科學、納米技術、生物學、醫(yī)學等領域中的應用不斷推動著科學的發(fā)展和技術的進步。